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      X射線熒光鍍層測厚儀可以同時分析15種元素，自動修正X射線重疊譜線，測量精度高、穩(wěn)定性好，是測量鍍層厚度的主要儀器。

      X射線熒光鍍層測厚儀的工作原理是對被測樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。因為是采用X射線進行檢測，可以達到無損檢測的效果。

      X射線熒光鍍層測厚儀可以做到快速無損測量，測量耗時短，在10秒內(nèi)就能得出測量結果，且測量結果度高，可至μin。